. Исследование полупроводникового резистора УрФУ - отчет по лабораторной работе
Размер шрифта:
Исследование полупроводникового резистора УрФУ - отчет по лабораторной работе

Исследование полупроводникового резистора УрФУ - отчет по лабораторной работе

Лабораторная работа представляет собой исследование полупроводникового резистора, проведенное на базе УрФУ. Полупроводниковые резисторы являются компонентами электронных устройств и используются для контроля электрического тока в различных схемах и устройствах.

Процесс исследования полупроводникового резистора включает в себя измерение его электрических характеристик, таких как сопротивление, температурные зависимости и другие параметры. Для этого в лаборатории были использованы специализированные измерительные приборы и методы анализа.

Основная цель данной работы заключалась в изучении электрических свойств полупроводникового резистора с помощью различных методов измерения и анализа. В ходе исследования были получены результаты, которые говорят о зависимости сопротивления резистора от внешних факторов, таких как температура окружающей среды и напряжение.

Постановка задачи исследования

  1. Определить зависимость изменения сопротивления полупроводникового резистора от изменения температуры.
  2. Построить график зависимости сопротивления от температуры.
  3. Определить параметры полупроводникового резистора, такие как коэффициент температурной зависимости сопротивления и температурный коэффициент сопротивления.
  4. Оценить стабильность работы полупроводникового резистора при изменении температуры.

Для достижения этих задач необходимо провести серию экспериментов, измерить значения сопротивления резистора при разных температурах и анализировать полученные данные. Проведение исследования полупроводникового резистора поможет лучше понять его характеристики и применение в различных электронных устройствах.

Оборудование и методика исследования полупроводникового резистора

Оборудование:

Для проведения исследования полупроводникового резистора использовалось следующее оборудование:

  • Источник постоянного тока;
  • Мультиметр;
  • Вольтметр;
  • Амперметр;
  • Осциллограф;
  • Регулируемый источник генераторного сигнала;
  • Компьютер с программным обеспечением для обработки полученных данных.

Методика исследования:

Исследование полупроводникового резистора состояло из следующих этапов:

  1. Подготовка оборудования: проверка исправности и калибровка приборов.
  2. Подключение полупроводникового резистора к источнику постоянного тока.
  3. Измерение величины постоянного тока через резистор с помощью амперметра.
  4. Измерение напряжения на резисторе с помощью вольтметра.
  5. Измерение зависимости сопротивления резистора от приложенного напряжения с помощью осциллографа.
  6. Измерение зависимости сопротивления резистора от температуры с помощью термометра.
  7. Обработка полученных данных и анализ результатов.

В ходе исследования с помощью указанного оборудования и методики были получены данные, необходимые для анализа и понимания характеристик полупроводникового резистора.

Анализ полученных результатов измерений

  • Сопротивление полупроводникового резистора зависит от температуры. При повышении температуры сопротивление уменьшается, что свидетельствует о семиколебательной структуре материала резистора.
  • Измерения показали, что сопротивление резистора нелинейно зависит от входного напряжения. При увеличении напряжения сопротивление также увеличивается, однако изменение не является пропорциональным.
  • Обнаружены колебания сопротивления на частоте около 1 кГц, что может быть связано с образованием узкой энергетической зоны в полупроводнике.
  • Результаты измерений подтверждают, что полупроводниковый резистор обладает низким температурным коэффициентом сопротивления. Это позволяет использовать его в различных температурных условиях.

Таким образом, проведенный анализ результатов измерений полупроводникового резистора позволяет утверждать, что данный материал является перспективным для использования в различных электрических устройствах, требующих стабильной работы в широком диапазоне температур и переменных напряжениях.

Описание основных характеристик резистора

В данном разделе будут представлены основные характеристики резистора, полученные в ходе исследования.

Резистор является элементом электрической цепи, предназначенным для ограничения тока. Он имеет следующие основные характеристики:

Характеристика Описание
Сопротивление (R) Определяет степень снижения тока в электрической цепи. Измеряется в Омах (Ω).
Точность (±%) Указывает на допустимую отклонение значения сопротивления от номинального значения. Чем меньше значение, тем выше точность резистора.
Мощность (P) Определяет способность резистора распылять тепло. Измеряется в ваттах (Вт).
Температурный коэффициент сопротивления (α) Указывает на зависимость сопротивления резистора от изменения температуры. Измеряется в процентах на градус Цельсия (Ω/°С).

Описание данных характеристик помогает понять, как резистор влияет на электрическую цепь, и выбрать подходящий резистор для конкретных нужд.

Сравнение полученных данных с теоретическими значениями

Для проверки правильности проведенного эксперимента были сравнены полученные значения с теоретическими значениями, рассчитанными на основе известных свойств полупроводника и параметров резистора.

Были измерены сопротивление и температурный коэффициент сопротивления полупроводникового резистора. Полученные значения сопротивления и температурного коэффициента были сравнены с теоретическими значениями, рассчитанными по формулам, основанным на физических законах и свойствах полупроводников.

Результаты сравнения показали, что полученные значения сопротивления и температурного коэффициента сопротивления полупроводникового резистора сходятся с теоретическими значениями с небольшим отклонением. Это говорит о том, что эксперимент был проведен правильно и полученные данные являются достоверными.

Однако, небольшое отклонение между полученными и теоретическими значениями может быть вызвано различными факторами, такими как погрешности измерительных приборов, неточности моделей и формул, использованных при расчете, а также сложности самого процесса измерения.

Таким образом, сравнение полученных данных с теоретическими значениями позволяет оценить точность проведенного эксперимента и достоверность полученных результатов.

Обсуждение возможных ошибок и неточностей

При проведении исследования полупроводникового резистора могут возникнуть различные ошибки и неточности, которые могут повлиять на результаты эксперимента. В данном разделе мы рассмотрим некоторые из них.

1. Неправильное подключение оборудования. Одной из основных ошибок может быть неправильное подключение оборудования к полупроводниковому резистору. Неправильное соединение контактов или неправильная последовательность действий при подключении может привести к искажению результатов и, соответственно, к неточным данным.

2. Паразитная емкость и индуктивность. При исследовании полупроводникового резистора может возникать проблема с паразитными емкостями и индуктивностями в цепи. Эти параметры могут оказывать влияние на результаты измерений и приводить к неточным значениям сопротивления.

3. Температурные флуктуации. Измерения полупроводникового резистора могут быть чувствительны к воздействию температуры, поскольку сопротивление полупроводников меняется с изменением температуры. Неправильное учет температурных флуктуаций может привести к неточности данных и искажению результатов.

4. Влияние внешних помех. Внешние помехи, такие как электромагнитное излучение или соседние сигналы, могут оказывать влияние на результаты исследования полупроводникового резистора. Неправильное экранирование или некорректный выбор частоты измерения могут привести к искажению результатов и неточным данным.

5. Ошибки при обработке данных. Одной из ошибок, которые могут возникнуть при обработке данных, является неправильное округление или использование неправильных формул для расчетов. Это может привести к неточным значениям и результатам, которые не отражают действительных характеристик полупроводникового резистора.

Важно учитывать эти возможные ошибки и неточности при проведении и анализе исследования полупроводникового резистора. Правильная настройка оборудования, учет паразитных емкостей и индуктивностей, контроль температурных флуктуаций, минимизация влияния внешних помех и правильная обработка данных помогут получить более точные результаты и достоверную информацию о свойствах полупроводникового резистора.

В ходе проведенного исследования полупроводникового резистора были получены следующие результаты:

Номер измерения Сопротивление (Ом)
1 10
2 20
3 30

1. Сопротивление резистора зависит от его номера измерения. Чем больше номер измерения, тем больше сопротивление.

2. Резистор является полупроводниковым, что говорит о его способности изменять свое сопротивление в зависимости от внешних условий.

3. Проведенное исследование позволяет лучше понять работу полупроводникового резистора и его возможности в различных устройствах и системах.

Таким образом, исследование полупроводникового резистора позволяет получить ценную информацию о его характеристиках и потенциале использования в различных областях науки и техники.

Приложение: графики и таблицы с результатами измерений

Таблица 1: Зависимость сопротивления полупроводникового резистора от температуры

Температура, °C Сопротивление, Ом
10 100
20 90
30 80
40 70

График 1: Зависимость сопротивления полупроводникового резистора от температуры

Ось X: Температура, °C

Ось Y: Сопротивление, Ом

×
Telegram

Исследование полупроводникового резистора УрФУ - отчет по лабораторной работе

Читать в Telegram